Методы и средства контроля аналоговых микросхем

Опубликовано новое учебное пособие "Методы и средства контроля аналоговых микросхем", авторы Л.А. Потапов, В.Ф. Зотин.

В первой главе: рассмотрены различные виды контроля в зависимости от его места в технологических процессах изготовления  микросхем (операционный, выходной) или сборки различных устройств у потребителя (входной), а также в зависимости от степени охвата контролем продукции (сплошной, выборочный). При этом даны ссылки на соответствующие ГОСТы.
Во второй главе:  приведены перечни контролируемых пара-метров аналоговых микросхем, приведены стандартизированные методы измерения электрических параметров интегральных микро-схем, дана группировка контролируемых параметров аналоговых микросхем  для специализированных тестеров.
В третьей главе: рассмотрены варианты исполнения некоторых узлов тестеров.
В четвертой главе: приведены описания тестеров для испытания аналоговых микросхем, в том числе тестеров, разработанных в Брянском государственном техническом университете и НИИ автоматики, телемеханики и метрологии.
В пятой главе: даны описания универсальных тестеров компаний Teradyne, ООО «Совтест АТЕ» (г. Курск) и ООО ФОРМ (Москва), а также подключаемых к тестерам автоматических манипуляторов (сортировщиков) и многозондовых установок (МЗУ).